X射線熒光光譜儀

• 型   號：EDX-LE
• 價(jià)   格：

X射線熒光光譜儀配置新型濾光片，提高Pb、Cd等的靈敏度。
配置高計(jì)數(shù)率電路，增加檢測器的計(jì)數(shù)量。
增加時(shí)間縮短功能，由X射線熒光強(qiáng)度算出測定精度，自動判斷所需Z少測定時(shí)間。
增加自動工作曲線選擇功能，依據(jù)識別樣品種類的不同而選擇Z適宜的工作曲線。

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X射線熒光光譜儀主要分析項(xiàng)目：
 
● 鉛(Pb)、鎘(Cd)、汞(Hg)、鉻(Cr)、溴(Br)
● 鹵素元素 氯（Cl）溴（Br)以及玩具行業(yè)八大有害重金屬分析
● 通過改進(jìn)硬件，Pb、Cd等的檢測靈敏度提高2倍
配置新型濾光片，提高Pb、Cd等的靈敏度。
配置高計(jì)數(shù)率電路，增加檢測器的計(jì)數(shù)量。
增加時(shí)間縮短功能，由X射線熒光強(qiáng)度算出測定精度，自動判斷所需zui少測定時(shí)間。
增加自動工作曲線選擇功能，依據(jù)識別樣品種類的不同而選擇zui適宜的工作曲線。

X射線熒光光譜儀產(chǎn)品介紹及技術(shù)特點(diǎn)：

1． 元素的檢測范圍很寬（ Al13～U92元素），有效應(yīng)對RoHS，無鹵，重金屬等各界未來擴(kuò)展項(xiàng)目；

2． 固體，粉末，液體都無需破壞性的樣品前處理的快速簡便分析（30sec~3min), 適用于快速評價(jià)RoHS,無鹵，ELV法規(guī)的有害元素的新裝置。

3. 使用的Si(PIN)半導(dǎo)體檢測器，不再需要液氮制冷，同時(shí)也*能很好的對樣品進(jìn)行分析，為用戶節(jié)約一筆可觀的費(fèi)用.

4. 無鹵檢測，使用不同濃度的六塊標(biāo)準(zhǔn)樣品建立工作曲線，在同行業(yè)中分析Cl偏差zui小，大氣氛圍中，zui低可測試23ppm   

5． 全新的濾光片組 合可獲得高精度的測試數(shù)據(jù)；*對應(yīng)IEC制定的3σ的判定標(biāo)準(zhǔn)。

6． 采用第三方標(biāo)準(zhǔn)樣品制作工作曲線，符合計(jì)量認(rèn)證的法規(guī)。

7 . 儀器開機(jī)一鍵式操作，且自動進(jìn)行光管老化步驟，大大提高了光管的工作壽命（延長了正常光管壽命的四分之一的時(shí)間）

8 . 應(yīng)用FP法可進(jìn)行無標(biāo)樣定性定量元素分析。

9 . 可進(jìn)行快速的定性分析和精確定量分析，zui小精度達(dá)1.7ppm滿足SONY-GP環(huán)保要求。

10. 可靠的X射線防護(hù)措施，通過了華南、華東和華北的環(huán)境保護(hù)檢測